Přístrojové vybavení Oddělení elektrochemických materiálů

Přístroje pro elektrochemii

Potenciostaty Autolab Metrohm: PGSTAT30, PGSTAT101, PGSTAT302N vvbavený frekvenčním analyzátorem FRA32 pro EIS, 2 x μAutolab typ III)
Potenciostaty/galvanostaty: POS 2 Bank Elektronik, HEKA PG590, Bipotenciostat DM1000 TopoMetrix, Ivium CompactStat
Vícekanálové automatické testovací systémy pro baterie (Maccor a Neware Battery Tester)

Integrovaný Ramanský spektrometr s mikroskopií rastrovací sondou

LabRAM HR Evolution (Horiba) Ramanův spektrometr
Excitační vlnové délky: 532 a 633 nm
Propojení se Smart SPM (AIST-NT) pro horní a boční osvit
Piezoelektrický skener vzorku svysokou frekvencí pro zvýšenou stabilitu
Propojení smodulární platformou TRIOS/Combiscope SPM pro horní, dolní i boční osvit
XYZ piezoelektrický skener objektivu pro nezávislý pohyb laserové excitace a sběru signálu
Plně integrovaný software pro kontrolu celého AFM-Raman systému

Pokročilá mikroskopie atomárních sil s analýzou nanomechanických vlastností (QNM)

AFM Dimension Icon (Bruker)
Skenování velkoplošných vzorků (8")
Online vyhodnocení silových křivek získaných v režimu Peak Force (PF) pro automatické nastavení parametrů skenování

Mikroskopie rastrovací sondou (AFM/STM) pro skenování v laboratorní atmosféře, kapalinách a v elektrochemickém uspořádání

Topometrix TMX 2010
NanoScope IIIa Multimode (Bruker) vybavený uzavřenou nádobkou pro SPM vkapalinách

Optické a fotoelektrochemické vybavení

UV-VIS-NIR spektrofotometr Lambda 19 a Lambda 1050 (Perkin-Elmer)
Spektroskopický zobrazovací elipsometr EP4 (Accurion)
Systém pro měření spektrální odezvy / IPCE / QE solárních článků, model IPX8, PV Measurements
Systém pro měření voltampérové charakteristiky solárních článků, IV5, PV Measurements
Elektrochemická pracovní stanice Zahner Zennium X, vybavená FRA, solárním simulátorem a modulem pro IPCE měření
UV zdroj Hönle Bluepoint LED se světlovody (2x) a UV fotometery (International Light a Hönle)

Vybavení pro fotokatalýzu

Monochromátor se rtuťovou výbojkou (Oriel)
Monochromátor s xenonovou výbojkou (Oriel)
Několik fotoreaktorů vlastní výroby
Analyzátor celkového organického uhlíku TOC-V WS (Shimadzu)
Kapalinový chromatograf HPLC systém 1200 Series (Agilent) s fluorescenčním detektorem HP-1100

Přístroje pro adsorpční studie, měření měrného povrchu a porozity

Další vybavení

Profilometr VEECO Dektak150 (Bruker)
Rukavicový box Jacomex
Rukavicový box Jacomex smanipulačním systémem pro 2-D krystaly
Zařízení pro depozici atomárních vrstev (ALD) PICOSUN R-200 Standard s integrovaným ozonovým generátorem PICOZONE PZ-100
Dvouterčíkový magnetronový naprašovací systém Quorum Q300TD
Systém pro optickou litografii přímým zápisem MicroWriter ML3 (Durham Magnetooptics)

Elektrochemie

Všechna standardní potenciostatická a galvanostatická měření (cyklická voltametrie, chronoamperometrie, chronopotenciometrie, diferenční pulsní voltametrie apod.)
Elektrochemická impedanční spektroskopie
Nabíjecí/vybíjecí cyklování baterií

In-situ a elektrochemické SPM metody

Rastrovací tunelová mikroskopie a mikroskopie atomárních sil (STM, AFM) in‑situ/ex‑situ, v průtokové nádobce a v řízené atmosféře při zvýšeném/sníženém tlaku
Elektrochemická AFM/STM
Rastrovací elektrochemická mikroskopie (SECM)

Ramanova spektroskopie a propojení AFM - Raman

Pokročilé techniky AFM

Peak Force QNM (PF QNM) - simultánní měření topografie a nanomechanických vlastností povrchu
Peak Force tunelovací AFM (PF TUNA) - simultánní PF QNM a elektrická charakterizace

Fotoelektrochemie a optické metody